磁性和渦流涂層測(cè)厚儀如何進(jìn)行工件測(cè)量

涂層的厚度是考核產(chǎn)品質(zhì)量的常見手法，我們往往需要對(duì)工件抽查、質(zhì)檢，這時(shí)候最常用到的設(shè)備就是涂層測(cè)厚儀。通過對(duì)涂層厚度判斷，了解和評(píng)估涂層的耐蝕性、耐磨性、孔隙率等性能。下面果歐就和大家聊聊如何用磁性和渦流涂層測(cè)厚儀進(jìn)行工件的測(cè)量，在講解如何測(cè)量前我們先來了解下測(cè)量原理。

磁性和渦流涂層測(cè)厚儀的原理：

磁性法工作原理是以探頭對(duì)磁性基體磁通量或互感電流為基準(zhǔn)，利用其表面的非磁性涂層的厚度不同，對(duì)探頭磁通量或互感電流的線性變化值來測(cè)定涂層厚，故該方法適應(yīng)于磁性基體上非磁性涂層厚度的檢測(cè)。

渦流法工作原理是將內(nèi)置高頻電流線圈探頭置于涂層上，在被測(cè)涂層內(nèi)產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，由此在金屬內(nèi)部產(chǎn)生渦流，渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭內(nèi)線圈，使其阻抗發(fā)生變化。隨基體表面涂層厚度的變化，探頭與基體金屬表面的間距改變，反作用于探頭線圈阻抗發(fā)生相應(yīng)的變化。由此，測(cè)出探頭線圈的阻抗值可以間接地反映出涂層的厚度。

磁性和渦流涂層測(cè)厚儀目前已有多種商品，如易高456、果歐GTS8202等。這種涂層測(cè)厚方法簡(jiǎn)便、快速、易行，儀器小巧便攜，大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)使用此方法，知道原理，那么我們下面就講講如何對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量。

涂層測(cè)厚儀測(cè)量工件第一步：

檢測(cè)方法這種方法在測(cè)量之前應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試，以確保測(cè)量精度，一般都是要用涂層測(cè)厚儀在無涂層的基體先校準(zhǔn)，再去測(cè)量工件，不論是對(duì)于工藝亦或是對(duì)于儀器原理來說，都建議這樣做。

涂層測(cè)厚儀測(cè)量工件第二步：

根據(jù)被測(cè)工件涂層有效面積的大小,采用不同測(cè)量點(diǎn)數(shù)進(jìn)行對(duì)有效面積小于1平方厘米（1cm2）的涂層工件作3點(diǎn)測(cè)量；對(duì)有效面積大于1平方厘米的涂層工件，在選擇基準(zhǔn)面內(nèi)作3~5點(diǎn)測(cè)量；對(duì)有效面積大于1平方厘米的涂層工件，在選擇基準(zhǔn)面內(nèi)作9點(diǎn)10次測(cè)量其中第1次測(cè)量點(diǎn)與第10次重合。各測(cè)量點(diǎn)分布如下圖所示。

備注：1cm2=1平方厘米，用來計(jì)量物體面的大小。

涂層測(cè)厚儀測(cè)量工件第三步：

測(cè)量影響因素基體金屬本身因素的影響：厚度、磁性、曲率、表面粗造度、機(jī)械加工方向和剩磁等；

涂層本身影響因素：厚度、導(dǎo)電率、表面粗糙度等；環(huán)境因素：周圍磁場(chǎng)、外來附著物等；

測(cè)量技巧的影響：探頭壓力、探頭取向和邊緣效應(yīng)等。

涂層測(cè)厚儀測(cè)量工件第四步：

基準(zhǔn)表面的確定當(dāng)測(cè)量有效表面小于1平方厘米的工件局部厚度的基準(zhǔn)時(shí)應(yīng)取整個(gè)有效表面；當(dāng)測(cè)量有效表面大于1平方厘米的工件局部厚度的每個(gè)基準(zhǔn)表面時(shí)，應(yīng)取1平方厘米(盡可能取邊長(zhǎng)為1cm的正方形)基準(zhǔn)表面?zhèn)€數(shù)的確定必須使基準(zhǔn)表面的總面積不小于有效面積的5%，基準(zhǔn)表面的位置應(yīng)均勻分布在整個(gè)有效表面上。

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